1主題內容與適用范圍

本標準規定了接觸式A型顯示超聲斜射縱被,橫波、稍利造、菜姆波的檢驗技術及它們的校準,同時對系統設備作了適當的規定.

本標準適用于常規超聲探傷中超聲探頭與被檢物直接接觸進行的斜射探傷

2引用標準

ZB Y 230-84 A型膚沖反射式超聲探傷儀通用技術條件

ZB Y 231-84超聲探傷用探頭性能測試方法

ZB Y 232-84超聲探傷用1號標準試塊技術條件

ZB J 04001-87 A型脈沖反射式超聲探傷系統工作性能測試方法

了一般規定

3.1 耀聲斜射探f方法應根據材料的幾何形狀以及缺陷可能存在的位置、形狀、大小、方向和反射率來選擇波束方向和振動模式。

3.2操作者需持有國家有關主管部門頒發的并與其工作相適應的資格證書.

3.3 如需定t進行超聲斜射探傷,H儀器適用的友聯超聲波探傷儀垂直線性和水平線性都應按ZB Y 230標準校驗或由檢驗機構和要求檢驗單位雙方同意的其他方法校驗.

3.4 檢驗前應按ZBJ 04001標難校準探傷系統.

3.5 檢驗結果按披檢產品驗收技術條件或規定的標準作出評定。

4檢驗系統

4.1 儀器

超聲探傷儀應符合2B Y 230標準,如對探傷儀有特殊要求也可用產品承檢單位和送檢單位雙方同意的其他方法校驗

4.2探頭

斜射橫波檢測探頭應符合ZB Y 231標準,探頭上應附有能按需要的角度和被型并能向被檢物傳遞超聲波的斜模,共他探頭也可參照ZB Y 231標準執行.

4.3耦合劑

4.3.1 探頭斜撰和被檢物檢查表面間應施加足夠的耦合劑,以保證檢測時具有良好的聲耦合,4.3.2 耦合劑通常為液體或糊狀體,典型的概合劑為機油、水、甘油、漿糊、水溶性油和油脂等,耦合劑可深加防銹劑或潤濕劑。選擇的羈合劑應對產品或工藝無害.

4.3.3不適于探傷的表面必須用適當的方法進行加工。在適于超聲波探傷儀探傷后應根據被檢材料的表面粗穩度和探測位置取向選擇合適的耦合劑,一般來說檢專表面粗糙或傾斜的材料時需用較高粘度輛合劑,檢驗時用的耦合劑須與校準時用的相同。

4.4校準用試塊

4.4.1 具有已知尺寸人工反射體的試塊都能作為校準用試塊.

4.4.2人工反射體的形狀可以是橫孔、刻糟或平底孔。

4.4.3試塊應采用與被檢物具有相同聲建、衰減、曲率和表面粗糙度的材料。若不能滿足這些條件,則應在產品檢查時引起的影響作適當修正;對不同具體產品的修正方法應列入產品驗收標準中,1.4.4 檢測時應根據相應的標準和有關規定選用校準用試塊,校準用試塊不得混雜使用。

4.5 檢驗時和校準時被檢物表面溫度差應在士14℃內,以免在斜模材料內產生較大的衰減和聲速差異。

5斜射橫波檢驗技術和校準

5.1 檢驗技術

5.1.1 最常用的斜射橫波折射角應在400~75"范圍內,折射角在80-~859時易在材料表面同時產生均利波,這種角度范圍內的斜射被應受到限制

5. 1.2 斜射橫波檢驗通常采用單探頭型式,也可采用雙探頭型式,探傷時應充分估計可能產生的缺陷類型及缺陷產生的方向,以便使超聲束射向缺陷而產生最理想的反射,如果缺陷的方向是任意的,則常需要用多個聲東方向檢在或將聲柬轉動。

5.2校準

5.2.1 斜射欖波探傷由于探測對象不同,因此使用的頻率和探頭型試以及及他們使用的試塊也各不相

同。如被檢物有適當的幾何形狀,則被檢物本身就能提供更為可靠的校準。

5.2.2 在具體產品的操臨規程中應寫明使用頻率、探頭和試塊型式等,需要時應作出距離-幅度校準線。

5.2.3 在常用的聲程范圍內,斜探頭的距離特性曲線往往各不相同,因此在制作校準曲線時必須用實際探傷用的探頭.

;斜射縱波檢驗技術和校準

6.1 檢驗技術

6.1.1 科射縱波的折射角為1--40(此時同葉存在很異的斜射攢波)

6.1.2 斜射縱波探傷時總是同時存在橫波,因此校準測距標度時應于注意,不要錯誤引用行程時間較大的橫波倍號進行校準.

6.1.3 在斜射縱波范圍內一般應用的探頭可分為三組即:單晶探頭、平行聲束的雙晶探頭和交叉聲束的雙晶探頭.

6.1. 3.1單品探

a. 斜射縱波范圍的單品探頭應用不多,一般單品探頭可在軸類的端頭利用直接反射或角反射探測缺陷。

當預期缺陷的主要反射面角度為已知時,則檢驗用聲束的角度應與此反射面垂直。在缺陷可能存在的區域,應在聲束與缺陷主要平面相互垂直的條件下對材料進行掃查

b. 在特殊情況下奧氏體不銹鋼焊縫可采用斜射縱波探傷.

6.1.3.2平行聲束雙晶探頭

當反射體的聲程較近時,為避免斜模中的雜波,可采用分開的發射和接收探頭或雙晶探頭。在雙晶探頭中,發射品片及其斜模與接收品片及其斜模用隔聲材料分開,以防止串音,發射聲束和接收聲束基