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創新的用戶界面概念結合便捷的數據管理，新產品MiniTest7400成為今天測量系統理想的解決方案。

新概念的優勢

直觀的菜單控制及與上下文相關的聯機幫助，使用簡易。大背光按鍵，即使戴著手套操作，也倍感舒適。大背光圖形顯示頻提供極佳的觀察效果，time涂層測厚儀，即使在晚上或能見度極低的條件下使用也極其方便。

配置管理幫助MiniTest 7400簡化了校準及參數設置，無需專業技能，也可在最短的時間內完成困難測量任務。先進的數據管理如PC一樣提供快速創建文件夾和易于設置批組。除了數字顯示讀數，層次清楚的顯示統計值和讀數包括趨勢圖和直方圖、過程能力指數”Cp”和“Cpk”以及組統計值。錯誤的讀數可以從批組中刪除以防止產生錯誤的統計值。

龐大的數據儲存器為必要的數據管理，可保存高達500批組的250,000個讀數。為滿足高精度測量的要求，7400探頭可達到5點校準（包括零點）。預設的校準方法符合工業準則和ISO 19840，非金屬涂層測厚儀，SSPC，西安涂層測厚儀，“瑞典”，“澳大利亞”的測量標準。此外，涂鍍層測厚儀，延伸的特殊校準方法也適用于粗糙表面的測量。

為了方便建立和評估測量值組和各種數據格式的輸出，標準配置包括計算機軟件包“MSoft 7 Professional”。軟件輸出數據如文本、Excel^®分析總表或PDF文檔，并允許筆記和注解條目。特點：測量樣品的圖片可以添加到數據報告中。

配備眾多的接口，北京時代涂層測厚儀，MiniTest 7400可以連接各種外接設備。紅外接口(IrDA^®1.0)可作為標準配置。一個多用接線盒可用來作為一個USB接口連接各種設備，如外借電源、耳機、腳踏開關或警報器。對于單個裝置連接，則可選擇RS 232和USB連接線以及IrDA^®^//USB接口轉換器。

模擬信號處理時代已成過去，數字信號處理將成為未來的趨勢。

SIDSP^® 明顯優勢

EPK此項探頭內部數字信號處理新技術為涂層測厚領域的創新奠定了新標準。高精度，高重現性，對溫度變化不敏感，適應性強，這些都是SIDSP^®的主要特點。創新的生產技術結合自動化校準過程，而且每個探頭可獨立校準，從而生產出高質量7400的探頭。

這主要源于充分利用了SIDSP技術賦予的優勢。無與倫比的精密生產過程使得每個探頭都如出一轍的優質。

重現性

讀數的可靠性主要取決于讀數的重現性。電磁干擾是最普遍的導致誤差的根源，所以保護測量系統和探頭電纜免受這些干擾非常重要。

跟傳統技術不同，SIDSP^®在探頭內部產生和控制激發信號。回傳的信號直接進行數字轉換和處理從而提供測量厚度值。厚度值通過探頭電纜數字化傳輸到顯示裝置，涂層測厚儀的使用方法，也就是說：在這種情況下模擬測量系統的信號傳輸過程中沒有更多干擾。即使您的測量工件需要特別長的電纜線也沒問題，加長的電纜線同樣具有極強的抗干擾能力。

EPK 的SIDSP^®探頭具有極高的重現性。將探頭放在同一測量點測量幾次，每次您都可以得到基本一樣的結果，再次證明了SIDSP^®探頭的優秀性能。

生產過程

在生產過程中，SIDSP探頭要經過特殊的校準程序，探頭在特征曲線上高達50個點進行校準，如此多個點的校準使得特征曲線在整個量程范圍內都十分精確以致可以消除其偏差。校準數據被永久儲存在傳感器,無論與哪一種SIDSP顯示器相連，覆層測厚儀，都可以迅速地被檢索。此外，生產過程中，探頭的溫度性能永久地決定整個工作溫度范圍。這樣，每個探頭都可以獨立調整溫度補償，在任何溫度即使溫度大幅度變動，特征曲線仍可保持其精確度。