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X射線熒光測試儀，涂層測厚儀使用方法，可在微小樣品上，非金屬涂層測厚儀，手動或全自動測量印刷線路板、電子元件和大規模生產零部件上的鍍層厚度。包括鎳層測厚、化鎳厚度等。

XDLM鍍層厚度測量儀特點

• 通用性極廣，qnix涂層測厚儀，因為配備了微聚焦管、4個可切換準直器和 3 個基本濾片
• 適用于微小結構，噴涂層測厚儀，如接插件或線路板
• 還適用于遠距離測量（DCM方法，涂層測厚儀維修，范圍0-80 mm）
• 底部C型開槽的大容量測量艙
• 可編程的臺式設備，指針涂層測厚儀，用于自動測量 

XDLM鍍層厚度測量儀典型應用領域

•  測量印刷線路板工業中，涂層測厚儀使用，薄金、鈀和鎳鍍層。鎳層測厚、化鎳厚度

• 測量接插件鍍層和觸點鍍層。

• 在電子和半導體行業中測量功能性鍍層。

• 黃金、珠寶和鐘表工業。