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表面粗糙度、輪廓形狀一體測量儀 |
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| 型 號：SV-C3200/SV-C4500 |
| 品 牌：日本三豐Mitutoyo |
技術指標：測量范圍 X 軸 (驅動部) 100mm
Z1 軸 (檢出器) 800μm/80μm/8μm |
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平度表面粗糙度、輪廓形狀一體測量儀-SV-C3200/SV-C4500-日本三豐Mitutoyo
Formtracer表面粗糙度、輪廓形狀一體機
Formtracer SV-C3200/4500 525 系列 — 表面粗糙度和輪廓測量系統
通過更換檢測器，美國粗糙度儀，一臺機器上即能測量表面粗糙度和輪廓形狀的高精度一體型測量機 ，上海表面粗糙度測量儀，同時能測量表面粗糙度和測量輪廓形狀的混合型測量機 。
產品特點
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• 高分辨力型Z1軸檢出器作為標準件提供。Z1軸的最高顯示分辨力為0.0001μm(測量范圍為8μm時)。
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• X軸內置高精度玻璃光柵尺，粗糙度儀的應用，直接讀取X軸移動距離，在高精度精準定位下，佛山粗糙度儀，完成間距參數的評價。
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• 檢出器測力有4mN和0.75mN可選。
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Z1軸(檢出器)上配有高精度弧形光柵尺和新型測臂。高精度弧形光柵尺能直接讀取測針的弧形軌跡，以實現高精度和高分辨力。與傳統型號相比，粗糙度儀的使用，新測臂使Z1
軸測量范圍增大了10mm 同時減少了工件的干擾。測臂安裝部采用了磁性鏈接件，單此接觸就能完成測臂的裝卸，浙江粗糙度儀，提高了易用性。
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• 專為SV-C-4500系列增加了以下兩大特性作為輪廓測量系統的專用功能。
裝配雙錐面測針，泰勒便攜式粗糙度儀，實現垂直方向(上/下)連續測量，所獲取的數據實現簡單分析以往難以測量的內螺紋有效直徑。測力可在FORMTRACEPAK軟件中設置。無需調整配重。
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•卓越的表面粗糙度/輪廓FORMTRACEPAK分析程序，日本三豐粗糙度測量儀，通過簡單的操作就能進行高級分析并即刻輸出結果。
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• 表面粗糙度測試儀和輪廓測量儀結合在一起，接觸式粗糙度儀，節省安裝空間。
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• 測臂安裝為一鍵式裝卸 (此項專利權在日本受理中)
測臂安裝部采用了磁性連接件，粗糙度輪廓儀，實現了快速更換。此外，裝卸部內置了安全結構。
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•繁瑣的校正也可以上下兩面連續一次性完成(此項專利權在日本受理中)
SV-C4500 系列使用專業校正規(標配附件)，通過改進使得上下兩方附帶從動件的上下圓錐測針能簡便易行地進行校正。Z1 軸增益、對稱性、探針半徑等繁瑣的校正工作一次便可完成。
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產品規格
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貨號
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SV-C3200S4
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SV-C3200H4
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SV-C3200W4
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SV-C3200S8
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SV-C3200H8
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SV-C3200W8
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SV-C4500S4
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SV-C4500H4
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SV-C4500W4
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SV-C4500S8
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SV-C4500H8
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SV-C4500W8
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測量表面粗糙度時
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測量范圍
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X 軸 (驅動部)
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100mm
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200mm
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Z1 軸 (檢出器)
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800μm/80μm/8μm
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直線度
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(0.05+L/1000) μm L: 驅動長度 (mm)
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0.5μm/200mm
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分辨力
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Z1軸（檢出器）
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0.01μm(800μm), 0.001μm(80μm), 0.0001μm(8μm)
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測力
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0.75mN (機身代碼末尾帶 “-1”的型號)
4mN (機身代碼末尾帶“-2”的型號)
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測針針尖形狀
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60º, 2μmR (機身代碼末尾帶 “-1”的型號)
90º, 5μmR (機身代碼末尾帶 “-2”的型號)
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對應尺寸
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JIS1982/ JIS1994/ JIS2001/ ISO1997/ ANSI/ VDA
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評價參數
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Pa, Pq, Psk, Pku, Pp, Pv, Pz, Pt, Pc, PSm, P q, Pmr(C), Pmr, P&c, Ra, Rq, Rsk, Rku, Rp, Rv, Rz,
Rt, Rc, RSm, R q, Rmr(C), Rmr, R c, Wa, Wq, Wsk, Wku, Wp, Wv, Wz, Wt, Wc, WSm, W q,
Wmr(C), Wmr, W c, Rk, Rpk, Rvk, Mr1, Mr2, A1, A2, Rx, AR, R, Wx, AW, W, Wte, Ry, RyDIN,
RzDIN, R3y, R3z, S, HSC, Lo, Ir, a, a, q, Vo, Htp, NR, NCRX, CPM, SR, SAR, NW, SW, SAW
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評價輪廓
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原始輪廓、粗糙度輪廓、濾波波紋輪廓、波紋輪廓、滾動圓波形原始輪廓、滾動圓波形
輪廓、包絡殘余線、DF 輪廓 (DIN4776 / ISO13565-1)、表面粗糙度MOTIF (包絡波紋輪廓在評
價MOTIF 時顯示)
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分析圖
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負荷曲線、振幅分布曲線、功率譜、自相關、Walsh 功率譜、 Walsh 自相關、頂峰分布、
傾斜角分布、參數分布(磨損量、重疊在輪廓分析可以用于面積等的原始分析)
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曲線補償
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最小平方直線、R 面補償、橢圓補償、拋物線補償、雙曲線補償、二次曲線補償、多項式
補償(自動或任意2~7 次)、無補償
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濾波器
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高斯濾波器, 2CRPC75, 2CRPC50, 2CR75, 2CR50, 魯棒樣條濾波器
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輪廓測量
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測量范圍
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X軸（驅動部）
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100mm
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200mm
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Z1軸（檢出器）
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60mm (測臂水平位置±30mm)
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直線度
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0.8μm/100mm
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2μm/200mm
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精度
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X軸（驅動部）
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±(0.8+0.01L)μm L: 驅動長度 (mm)
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±(0.8+0.02L)μm L = 驅動長度 (mm)
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Z1軸（檢出器）
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SV-C3200 系列: ±(1.6+|2H|/100)μm, SV-C4500 系列: ±(0.8+|2H|/100)μm
H: 水平位置上的測量高度 (mm)
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分辨力
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X軸（驅動部）
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0.05 μm
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Z1軸（檢出器）
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SV-C3200 系列: 0.04μm, SV-C4500 系列: 0.02μm
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Z2軸（立性）
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1 μm
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測力
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SV-C3200 系列: 30mN (可調使用重量)
SV-C4500 系列: 10, 20, 30, 40, 50mN (根據軟件轉換)
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側頭方向
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SV-C3200 系列: 垂直方向 (向上/ 向下單獨測量)
SV-C4500 系列: 垂直方向 (向上/ 向根據配重調整)
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通用時
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Z2軸 (立柱) 移動量
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300mm
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500mm
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300mm
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500mm
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X 軸傾斜角度
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±45º
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驅動速度
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X 軸0
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0 - 80mm/s 外加手動
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Z2 軸 (立柱)
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0 - 30mm/s 外加手動
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測量速度
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0.02 - 5mm/s
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