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X 射線熒光測試儀 |
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| 型 號：XDAL |
| 品 牌：德國菲希爾Fischer |
| 技術(shù)指標：不適合測量十分細小的結(jié)構(gòu) |
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普洱X 射線熒光測試儀-XDAL-德國菲希爾Fischer
X 射線熒光測試儀，鋅層測厚儀，帶有可編程的 X/Y平臺和Z軸，涂層測厚儀價格，可自動測量鍍層厚度和分析材料組分
特點
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配備了半導體探測器，涂層測厚儀圖片，由于有更好的信噪比，涂層測厚儀的使用方法，能更精確地進行元素分析和薄鍍層測量
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使用微聚焦管可以測量較小的測量點，麥考特涂層測厚儀，但因為其信號量較低，分體式涂層測厚儀，不適合測量十分細小的結(jié)構(gòu)
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底部C型開槽的大容量測量艙
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有彈出功能的快速、可編程XY平臺
典型應用領(lǐng)域
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鍍層和合金的材料分析（還適用于薄鍍層和低含量成分）
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來料檢驗，一體式涂層測厚儀，生產(chǎn)監(jiān)控
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研究和開發(fā)
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電子工業(yè)
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接插件和觸點
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黃金、珠寶和鐘表工業(yè)
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可以測量數(shù)納米薄的鍍層，鉻層測厚儀，如印刷線路板和電子元器件上的Au和Pd鍍層
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痕量元素分析
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在有“高可靠性”要求的應用中確定鉛（Pb）含量
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硬質(zhì)鍍層分析
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